Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Наукова періодика України - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
Повнотекстовий пошук
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (1)Автореферати дисертацій (1)Реферативна база даних (7)
Список видань за алфавітом назв:
A  B  C  D  E  F  G  H  I  J  L  M  N  O  P  R  S  T  U  V  W  
А  Б  В  Г  Ґ  Д  Е  Є  Ж  З  И  І  К  Л  М  Н  О  П  Р  С  Т  У  Ф  Х  Ц  Ч  Ш  Щ  Э  Ю  Я  

Авторський покажчик    Покажчик назв публікацій


Пошуковий запит: (<.>A=Королевич Л$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 5
Представлено документи з 1 до 5
1.

Гудз Г. С. 
Визначення раціональної тривалості дефектування автобусних кузовів на засадах ймовірнісно-статистичного підходу [Електронний ресурс] / Г. С. Гудз, М. М. Осташук, Л. М. Королевич // Проектування, виробництво та експлуатація автотранспортних засобів і поїздів. - 2013. - № 21. - С. 72-81. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Pveazp_2013_21_12
Попередній перегляд:   Завантажити - 4.732 Mb    Зміст випуску     Цитування
2.

Борисов А. В. 
Математическая модель межузлового аспекта пространственной кристаллической решётки [Електронний ресурс] / А. В. Борисов, Л. Н. Королевич, А. В. Шевлякова // Electronics and communications. - 2015. - Т. 20, № 5. - С. 6-14. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/eisv_2015_20_5_3
Рассмотрена проблематика математической инвариантности межузлового аспекта кристаллической решётки. Благодаря введению понятия кристаллосферической системы координат и модифицированной нормальной формы Гессе математически доказана инвариантность описания кристаллической решётки в межузловом аспекте. Последний обобщён на все пространственные фёдоровские группы.
Попередній перегляд:   Завантажити - 301.26 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
3.

Королевич Л. Н. 
Физическая модель межузлового аспекта пространственной кристаллической решетки [Електронний ресурс] / Л. Н. Королевич, А. В. Борисов, А. В. Шевлякова // Electronics and communications. - 2016. - Т. 21, № 2. - С. 10-17. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/eisv_2016_21_2_4
Рассмотрена проблематика физической инвариантности межузлового аспекта кристаллической решётки и его обобщение на все пространственные фёдоровские группы. Доказана физическая тождественность межузлового и узлового аспектов кристаллической решётки. Показана применимость межузлового аспекта к решению задачи о плотности поверхностных состояний.
Попередній перегляд:   Завантажити - 949.834 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
4.

Королевич Л. М. 
Критерій вибору діелектрика для кремнієвих МДН-структур [Електронний ресурс] / Л. М. Королевич, О. В. Борисов // Мікросистеми, Електроніка та Акустика. - 2018. - Т. 23, № 6. - С. 6-12. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/eisv_2018_23_6_3
Розглянуто питання загального підходу до пошуку діелектрика для кремнієвих МДН-структур як альтернативного діоксиду кремнію. Показано, що на базі класичної теорії опису кристалічної решітки (вузловий аспект) неможливо одержати критерій вибору діелектрика для МДН-структур. Тому запропоновано новий - міжвузловий аспект - опису кристалічної решітки, на базі якого одержано загальний критерій вибору діелектрика для будь-якої напівпровідникової підкладки. Завдяки введенню нового характеристичного параметра кристалічної речовини - середньої довжини зв'язку - одержано аналітичний вираз для роботи виходу електрона з кристалу. Встановлено, що найбільш придатним для кремнієвих МДН-структур є діоксид церію.
Попередній перегляд:   Завантажити - 622.709 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
5.

Королевич Л. Н. 
Влияние методов получения тонких пленок оксида церия на вольт-фарадные характеристики МДП-структур [Електронний ресурс] / Л. Н. Королевич, Н. В. Максимчук, А. В. Борисов // Мікросистеми, Електроніка та Акустика. - 2019. - Т. 24, № 3. - С. 13-19. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/eisv_2019_24_3_4
Рассмотрены методы получения тонких пленок оксида церия, совместимые с классической кремниевой технологией. Показано, что вольтфарадные характеристики (ВФХ) структур алюминий - оксид церия - кремний зависят от метода получения диэлектрической пленки. Рассмотрена система зарядов на границе раздела диэлектрик - полупроводник и вблизи нее. Установлено, что на ВФХ таких структур оказывает влияние только фиксированный заряд в диэлектрике, поскольку другие типы электрического заряда отсутствуют и/или их количество пренебрежимо мало. Установлено, что МДП-структуры, полученные с использованием метода вспышки, характеризуются обратимыми изменениями напряжения плоских зон вследствие изменения величины фиксированного заряда в диэлектрике, под воздействием внешних факторов. Метод окисления металлического зеркала позволяет получить МДП-структуры с фиксированным зарядом в диэлектрике, независимым от воздействия внешних факторов.
Попередній перегляд:   Завантажити - 906.884 Kb    Зміст випуску    Реферативна БД     Цитування
 
Відділ наукової організації електронних інформаційних ресурсів
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського